浙江sir电阻测试系统解决方案

1、电化学迁移(ECM)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。2、导电阳极丝(CAF)目前公认的CAF成因是铜离子的电化学迁移随着铜盐的沉积。在高温高湿条件下,PCB内部的树脂和玻纤之间的附力劣化,促成玻纤表面的硅烷偶联剂产生水解,树脂和玻纤分离并形成可供离子迁移的通道。PCB/PCBA绝缘失效失效机理绝缘电阻是表征PCB绝缘性能的一个简单而且容易测量的指标，绝缘失效是指绝缘电阻减小。一般,影响绝缘电阻的因素有温度、湿度、电场强度以及样品处理等。绝缘失效通常可能发生在PCB表面或者内部,前者多见于电化学迁移(ECM)或化学腐蚀,后者则多见于导电阳极丝(CAF)。1、电化学迁移(ECM)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。维柯多通道导通电阻实时监控测试系统 GWLR256与冷热冲击试验箱配合使用，用于产品导通（低 阻）性能验证。浙江sir电阻测试系统解决方案

PCB/PCBA绝缘失效是指电介质在电压作用下会产生能量损耗，这种损耗很大时，原先的电能转化为热能，使电介质温度升高，绝缘老化，甚至使电介质熔化、烧焦，**终丧失绝缘性能而发生热击穿。电介质的损耗是衡量其绝缘性能的重要指标，电介质即绝缘材料，是电气设备、装置中用来隔离存在不同点位的导体的物质，通过各类导体间的绝缘隔断功能控制电流的方向。电介质长期受到点场、热能、机械应力等的破坏。在电场的作用下，电介质会发生极化、电导、耗损和击穿等现象，这些现象的相关物理参数可以用相对介电系数、电导率、介质损耗因数、击穿电压来表征。江苏电阻测试欢迎选购GWHR-256多通道 SIR/CAF实时监控测试系统搭配广州维柯CAF测试软件，更好更快速完成检测。

离子迁移绝缘电阻测试广泛应用于电子产品制造和质量控制过程中。它可以用于检测电子元器件、印刷电路板、电子设备外壳等材料的质量。通过测试，可以及时发现材料中的离子迁移问题和绝缘电阻异常，从而采取相应的措施进行修复或更换，确保电子产品的质量和可靠性。离子迁移绝缘电阻测试的方法主要包括湿度试验、电压加速试验和绝缘电阻测量。湿度试验是将材料置于高湿度环境中，通过观察离子迁移现象来评估材料的质量。电压加速试验是在高电压条件下进行离子迁移测试，以加速离子迁移速率，从而更快地评估材料的质量。绝缘电阻测量是通过测量材料的绝缘电阻值来评估材料的绝缘性能。

在电子产品的制造和维修过程中，电阻测试配件起着至关重要的作用。电阻测试配件通过测量电路中的电阻值来判断电路的工作状态。电阻是电子元器件中基本的一种，它的作用是限制电流的流动，控制电路的工作状态。电阻的大小决定了电流的大小，从而影响整个电路的性能。因此，电阻测试配件的准确性和稳定性对于电子产品的制造和维修至关重要。电阻箱是一种可以调节电阻值的测试仪器。它通常由多个电阻组成，通过选择不同的电阻值来模拟不同的电路条件。电阻箱广泛应用于电子产品的调试和测试过程中，可以帮助工程师快速定位和解决电路中的问题。智能电阻能够提供更加便捷和精确的电阻测试。

广州维柯信息技术有限公司多通道SIR/CAF实时监控测试系统测量电流的设定：使用低阻SIR系统测样品导通性时可以设置测量电流范围0.1A~5A。使用高阻CAF系统测样品电阻时测量电流是不用设置，需设置测量电压，因为仪器恒压工作测量漏电流，用欧姆定理计算电阻值。电阻值的测定时间可设定范围是：CAF系统的单次取值电阻测定时间范围1-600分钟可设置，单次取值电阻测定电压稳定时间范围1-600秒可设置，完成多次取值电阻测定时间1-9999小时可设置。电阻测试范围1x104 -1 x1014 Ω，电阻测量精度：1x104 -1x1010Ω≤±2%， 1x1010 -1x1011Ω≤±5%1x1011 -1x1014Ω≤±20%表面绝缘电阻（SIR）测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题。贵州pcb绝缘电阻测试厂家供应

SIR测试目的更改清洁材料或工艺。浙江sir电阻测试系统解决方案

10、在500小时的偏压加载后，可以进行额外的T/H/B条件。然而，**少要进行500小时加载偏置电压的测试，来作为CAF测试的结果之一。11、在确定为CAF失效之前，应该确认连接线两端的电阻是不是要小于菊花链区域的电阻。做法是将菊花链附近连接测试线缆的线路切断。所有的测试结束后，如果发现某块测试板连接线两端的电阻确实小于菊花链区域的电阻，那么这块测试板就不能作为数据分析的依据。常规结果判定：1.96小时静置后绝缘电阻R1≤107欧姆，即判定样本失效；2.当**终测试绝缘电阻R2<108欧姆，或者在测试过程中有3次记录或以上出现R2<108欧姆即判定样本失效。浙江sir电阻测试系统解决方案